ICT测试常见盲点有哪些?

发布时间: 2018-01-08
所属栏目: 常见问题
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本文介绍一下常见的ICT测试盲点 , 供大家学习参考。

ICT在线测试

1. 探针不可及的零件。

2. 小电容并联大电容(C1//C2),小电容不可测。一般而言,C2的容值是C1的10倍以上,C1不可测。

3. 大电阻并联小电阻(R1//R2),大电阻不测。一般而言,如何R1的容值是R2的20倍以上,则R1不可测。两电阻并联后,其阻值比小电阻略小,这是大电阻缺件不可测。同理,与跳线并联的电阻也不可测。

4. 小电阻过小,无法准确测试。虑及探针接触电阻,排线连接器等电阻的影响,故上限要放宽。

5. 同一铜箔上的跳线以及相并联的跳线漏件不可测。

6. 大电阻并联大电容,大电阻无法准确测试。要考虑两个影响因素,一个是电容的充电时间较长,要等显示值稳定之后读数,另外,假若电阻的阻值较大,则电容的漏电电阻不能忽略,测定的阻值可能比电阻的实际阻值小。实际调试时才能判断是否可测。

7. 小电容并联小电阻,小电容不可测。

8. 电感并联电阻或电容及其它元件,电阻或其它元件不可测

9. 二极体同向并联,其中一个漏件或空焊不可测

10. 小电阻并联元件所并联的元件不可测

11. 电容容值过小,一般不准确测试

12. IC内部性能、晶振、可调电阻(VR)、热敏电阻,突波吸收器等一些元件本身特性原因不可测或无法准确测试

13. 二极体、晶体管并联大电容,二极体、晶体管不可测

14. 元件的高低点同在一个短路群,其元件不可测

15. IC空焊测试时,如果被测IC有接脚有电容并联,则此接脚开路无法测试.

16. 电阻与跳线并联时,电阻不可测.

17. 电感(或变压器、继电器)与跳线并联不可测。

18. 电感错件为跳线或被短路无法测试。

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